Bibliographic Metadata

Title
Atomic Force Microscope (AFM) : Analyse von Leichtmetall-Schliffpräparaten
Additional Titles
Atomic Force Microscope (AFM) Analysis of light metal alloys
AuthorEschelmüller, Philipp
Thesis advisorUnterweger, Udo
Published2018
Date of SubmissionJune 2018
LanguageGerman
Document typeBachelor Thesis
Keywords (DE)Mikroskopieverfahren / Leichtmetalllegierungen / Atomic Force Microscopes / Auflichtmikroskop
Keywords (EN)light metal alloys / Atomic Force Microscope
Restriction-Information
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Classification
Abstract (German)

In dieser Arbeit werden aus ausgewählte Leichtmetalllegierungen Proben erstellt und diese mit zwei Mikroskopieverfahren untersucht. Die hergestellten Schliffproben werden mit dem Auflichtmikroskop und dem Atomic Force Microscope betrachtet. Der gesamte Entstehungsprozess der Proben, dessen Bearbeitung und die metallographischen Untersuchungen werden in dieser Arbeit behandelt. Durch Beobachtungen, Versuche und Durchführung der Oberflächenanalyse können Vor und Nachteile ermittelt werden. Die Bewertung der Ergebnisse zeigt die Relevanz und den Anwendungsbereich des Atomic Force Microscopes. Verglichen werden die zwei Mikroskopieverfahren in Hinblick auf Anwendbarkeit, Aufnahmequalität, und Prozessaufwand.

Im Kern der Arbeit werden die notwendigen Prozesse der Probenherstellung für die Anwendung des Atomic Force Microscopes aufgezeigt. Versuche wurden durchgeführt, um Ergebnisse zur deutlichen Verbesserung des gesamten Herstellungsprozesses zu ermöglichen. Welche Fehler bei der Erzeugung der Proben und Durchführung der Untersuchung entstanden sind, und welche Maßnahmen zur Fehlerminimierung gesetzt werden können, ist beschrieben. Parameter und Einstellungen des gesamten Herstellungsprozesses wurden variiert, um ausschlaggebende Verbesserungen der Aufnahmequalitäten, Prozessschritte oder Analysendauer einzuholen. Aufnahmen der einzelnen Legierungen wurden mit den beiden Mikroskopen aufgenommen und bewertet. Ob sich die beiden Verfahren, hinsichtlich ihrer Eigenschaften und Funktionen, direkt vergleichen lassen, wird im Ergebnis dargestellt.

Abstract (English)

In this thesis, samples are provided from selected light metal alloys and examined by two microscopy procedures. The prepared samples are observed with the light microscope and the Atomic Force Microscope. The entire production-process of the samples, their processing and the metallographic investigations are described. By observing, testing and performing the surface analysis, advantages and disadvantages can be determined. The evaluation of the results shows the relevance and scope of the Atomic Force Microscope. The two microscopy methods are compared in terms of applicability, recording quality, and process complexity.

In the main part of the thesis, the processes of sample preparation for the Atomic Force Microscope are described. Experiments were performed to allow results to significantly improve the overall manufacturing process. Parameters and settings of the entire manufacturing process have been varied in order to obtain significant improvements in the recording qualities, process steps or duration of analysis. Whether the two methods can be compared directly in terms of their properties and functions, is shown in the result.