Bibliographic Metadata

Title
Atomic Force Microscope (AFM) Analyse von Buntmetall-Schliffpräparaten
Additional Titles
Atomic Force Microscope (AFM) analysis of polished specimen from nonferrous metals
AuthorWillert, Cornelia
Thesis advisorUnterweger, Udo
Published2018
Date of SubmissionJune 2018
LanguageGerman
Document typeBachelor Thesis
Keywords (DE)AFM / ALM / Analyse von Buntmetall-Schliffpräparaten / Analyse von Schliffproben / Atomic Force Microscope / Auflichtmikroskop / Buntmetall / Schliffprobenpräparation / Vergleich ALM AFM / Vergleich Auflichtmikroskop Atomic Force Microscope
Keywords (EN)AFM / RLM / analysis of polished specimen of nonferrous metals / analysis of polished specimen / atomic force microscope / reflected-light microscope / nonferrous metals / preparation of polished specimen / comparison RLM AFM / comparison reflected-light microscope atomic force microscope
Restriction-Information
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Classification
Abstract (German)

Diese Bachelorarbeit beschäftigt sich mit der Forschungsfrage, ob ein Atomic Force Microscope (AFM) mehr Datentiefe bietet als ein Auflichtmikroskop (ALM). Hierfür werden Schliffproben von drei Nichteisenmetallen erstellt und untersucht. Die Ergebnisse der Betrachtungen werden miteinander verglichen.

Als Probenmaterial wird Kupfer, Messing und Zinn verwendet. Die chemischen Zusammensetzungen sowie ihre Werkstoffkenndaten sind weitestgehend bekannt. Daher sind sie für diesen Vergleich geeignet. Es können mögliche Abweichungen, relativ zu konventionell und bewährt erlangten Kenndaten bei der Auswertung, sofort erkannt werden.

Präparate werden aus den Nichteisenmetallen erstellt und in eine Ätzlösung getaucht. Im Anschluss daran werden die Vergleiche durchgeführt. Dabei werden auftretende Abweichungen kontinuierlich analysiert, um klare Aussagen über die Ergebnisse treffen zu können, sowie für zukünftige Forschungsversuche an den Mikroskopen mögliche Fehlerquellen aufzuzeigen.

Das Ergebnis des Vergleichs ist, dass beim Atomic-Force Microscope mehr Datentiefe erhalten werden kann, als beim Auflichtmikroskop. Bei der Auflichtmikroskopie können Aussagen über die Oberflächenstruktur sowie die Eigenschaften der Metalle getroffen werden. Im Gegensatz zum ALM, können beim AFM Daten über die Rauheit, die Adhäsion und das E-Modul generiert werden.

Abstract (English)

This Bachelor thesis is about the preparation and analysis of polished specimen. It covers finding out, if a specified atomic force microscope yields more information, than a reflected-light microscope, which is the research question. It is reassessed by the examination of three metals. They are firstly reviewed in the reflected-light microscope and directly afterwards in the AFM. The observation results are compared with each other.

The three mentioned metals are copper, brass and a tin-alloy. Their components and characteristics are identified. This is the reason why they are suited for the comparison. Possible failures can be detected immediately.

Compounds of the nonferrous metals are prepared and generated. They are batch etched. The comparisons are carried out subsequently. Occurring flaws are analyzed, to be able to assert the results and to depict possible issues for further research on the microscopes.

The comparative result is the yielding of more information of the atomic force microscope, than of the reflected light microscope. With the reflected light microscopic research, information about the metal’s structure and its characteristics is contained. With the atomic force microscope information about abrasiveness, adhesion of the nonferrous metals and the elasticity modulus can be gathered.